Aktuelles

Hamm (idr). Mit der Neuentwicklung einer Testinfrastruktur von Mikrochips hat die Hochschule Hamm-Lippstadt ihr erste US-Patent erreicht. Im Studiengang "Intelligent Systems Design" wurde im Rahmen eines Forschungsprojekts eine neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips entwickelt, die genauere, kostengünstigere und zeitsparendere Tests ermöglicht - sowohl in der Chip-Produktion als auch bei in Betrieb befindlichen Mikrochips. Besondere Bedeutung hat diese Erfindung zum Beispiel in Bereichen der autonomen Steuerung, wie dem autonomen Fahren, um Betriebssicherheit wie auch Sicherheit anderer zu ermöglichen.

Infos unter http://www.hshl.de/presse oder https://www.hshl.de/concurrent-ijtag/

Pressekontakt: Hochschule Hamm-Lippstadt, "Intelligent Systems Design", Prof. Dr. René Krenz-Baath, Telefon: 02381/8789-415, E-Mail: rene.krenz-baath[at]hshl.de